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arXiv · quant-ph· Winston Fu, J. Wilson Staples, Jeff D. Thompson·· 15 小时前

利用故障计数高效估计表面码逻辑敏感度

Efficient Estimation of Logical Sensitivities Through Fault-Counting

arXiv:2610.10531v1阅读论文 PDF ↗

仅依据论文摘要整理;未读取全文,实验条件、证明与基准细节请核对原文。

作者:Winston Fu, J. Wilson Staples, Jeff D. Thompson

首次提交:2026-10-08 01:58

研究任务与主要进展

基于论文摘要,作者提出利用故障配置信息的可微估计器,从单一噪声配置的蒙特卡洛数据中同时估计逻辑错误率对各物理噪声参数的梯度。该方法在表面码电路级噪声模拟中与传统有限差分结果一致,并以少一至两个数量级的采样次数达到相同方差,还可用于误差预算、单个量子比特敏感度、有效码距及多维噪声阈值轮廓分析。

阶段、条件与复现 · 深读核对

  • 理论、模拟、逻辑存储实验还是逻辑门演示?
  • 码距、轮次、逻辑误差口径与后选择条件是什么?
  • 译码延迟、资源开销与容错扩展路径是否给出?

这些是阅读核对问题;材料未说明的条件保留未知。请结合上方论文版本、资料范围与原文核验。

来源:arXiv · quant-ph · arxiv.org