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arXiv · cs.AI· Limon Bin Hossain, Md Sadib Rahman Ananta·· 1 天前

EfficientAD 与 DDPM 融合的晶圆分选图开放集异常检测研究

Efficient Patch-Based Anomaly Detection Fused with Diffusion Driven Generative Modeling for Semiconductor Wafer Bin Map Open Set Anomaly Detection

arXiv:2610.09993v1阅读论文 PDF ↗

仅依据论文摘要整理;未读取全文,实验条件、证明与基准细节请核对原文。

作者:Limon Bin Hossain, Md Sadib Rahman Ananta

首次提交:2026-10-07 20:52

研究任务与主要进展

研究者提出将 EfficientAD 学生—教师异常检测器与用于局部扩散重建的 DDPM 融合,用于晶圆分选图的开放集异常检测。基于论文摘要,模型仅用 WM-38K 中 700 个正常晶圆训练,并在 18,658 个留出晶圆上达到 0.9985 AUROC,将误分类数从 DDPM 的 852 个和 EfficientAD 的 1,412 个降至 618 个。

阶段、条件与复现 · 深读核对

  • 新能力对应什么具体任务与最小输入输出?
  • 代码、模型、数据、许可与可用入口是否明确?
  • 效果、总成本、失效条件与实际工作流如何验证?

这些是阅读核对问题;材料未说明的条件保留未知。请结合上方论文版本、资料范围与原文核验。

来源:arXiv · cs.AI · arxiv.org