具有有限记忆的量子过程序贯容量研究

Yibin Wang 提出序贯响应容量，用于衡量固定内部记忆的量子设备在多轮自适应测试中区分候选过程的能力。基于论文摘要，研究建立了固定系统规模、记忆规模和概率分辨率下容量与运行长度、概率分辨率的紧致关系，并报告容量随运行长度呈 K log K 增长；单可见比特上的时变相位旋转构造可达到该增长。