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arXiv · quant-ph· Alessandro Reineri, Francesco Crisa, Maithlee Shinde, Daniel Bafia, Akshay Murthy, Changqing Wang, Tanay Roy, Alexander Romanenko, John Zasadzinski, Anna Grassellino, Silvia Zorzetti·· 5 小时前

铌酸锂与氮化铝毫开尔文单光子功率微波介电损耗研究

Microwave dielectric properties of LiNbO$_{\mathbf{3}}$ and AlN at millikelvin temperatures and single-photon power

arXiv:2609.22002v2阅读论文 PDF ↗

仅依据论文摘要整理;未读取全文,实验条件、证明与基准细节请核对原文。

作者:Alessandro Reineri, Francesco Crisa, Maithlee Shinde, Daniel Bafia, Akshay Murthy, Changqing Wang, Tanay Roy, Alexander Romanenko, John Zasadzinski, Anna Grassellino, Silvia Zorzetti

研究任务与主要进展

基于论文摘要,研究者测量了单晶块体铌酸锂和氮化铝在毫开尔文至1 K以上、单光子功率下的微波损耗。结果显示两种材料均存在TLS行为,损耗主要定位于表面而非体内,摘要称压电相关损耗被排除,并由室温XPS和飞行时间SIMS分析进一步支持。

阶段、条件与复现 · 深读核对

  • 处于计划、宣布、开放、交付还是实测阶段?
  • 门、读出、互连与系统能力的指标如何定义?
  • 访问条件、扩展瓶颈和独立验证材料是什么?

这些是阅读核对问题;材料未说明的条件保留未知。请结合上方论文版本、资料范围与原文核验。

来源:arXiv · quant-ph · arxiv.org