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外延hBN上铌超导谐振器实现约10^-6低TLS损耗

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AI 综述

J. Christiansen-Salameh 等在 arXiv 发布论文,在蓝宝石基底上生长的少层分子束外延 hBN 薄膜上制备铌超导谐振器,并与无 hBN 的对照器件比较。射频测量(功率、温度和时间涨落响应)显示,集成 hBN 的谐振器保持低介质损耗,低功率内损耗因子约为 10^-6,品质因子仅有轻微下降。 作者将这一结果视为利用二维材料热性质抑制声子介导相关误差的初步步骤。

AI 根据报道生成 · 3 小时前更新

报道时间线

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10月12日
  1. arXiv · quant-ph
    超导谐振器在少层外延 hBN 薄膜上的 TLS 损耗研究

    研究团队在蓝宝石基底上生长的少层分子束外延六方氮化硼(hBN)薄膜上制备铌超导谐振器,并与无 hBN 的对照器件进行比较。通过射频测量功率、温度和时间涨落响应,集成 hBN 的谐振器保持低介质损耗,低功率内损耗因子约为 $10^{-6}$,且品质因子仅有轻微下降。作者将这一结果视为利用二维材料热性质抑制声子介导相关误差的初步步骤。

本事件热度走势

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910月12日 14:00
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